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更新時(shí)間：2019-03-12
點(diǎn)擊次數(shù)：1513
差熱實(shí)驗(yàn)裝置/差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào)：DP-ZCR
本裝置采用單片機(jī)程序控溫。測量參比物和物質(zhì)在物理或化學(xué)作用下所產(chǎn)生的熱效應(yīng)（吸熱或放熱）以及相對(duì)溫度變化（DTA）。
裝置組成及特點(diǎn)：
* DP-ZCR差熱實(shí)驗(yàn)儀
* 差熱實(shí)驗(yàn)爐
1、溫度范圍：室溫～1100℃
2、溫度分辨率：0.1℃
3、控溫速率：1～20℃/min
4、程序方式：微型處理器程序控制PID
5、DTA分辨率：1uV
6、DTA量程：0～2000uV（不分檔）
7、DSC方式：數(shù)據(jù)、曲線解析
8、DSC范圍：1mW～±100mW
9、DSC解析度：10uW
10、輸出方式：計(jì)算機(jī)、打印機(jī)系統(tǒng)
當(dāng)前位置：
